✦ 30 dni na zwrot · Zwrot na nasz koszt · Bezpieczna płatność ✦
Kolorymetr Miernik połysku WG45 Pojedynczy kąt 45 stopni Miernik połysku Specular Tester połysku 45 stopni Cienkowarstwowy miernik połysku Szybki pomiar
Kolorymetr Miernik połysku WG45 Pojedynczy kąt 45 stopni Miernik połysku Specular Tester połysku 45 stopni Cienkowarstwowy miernik połysku Szybki pomiar
Kolorymetr Miernik połysku WG45 Pojedynczy kąt 45 stopni Miernik połysku Specular Tester połysku 45 stopni Cienkowarstwowy miernik połysku Szybki pomiar
Kolorymetr Miernik połysku WG45 Pojedynczy kąt 45 stopni Miernik połysku Specular Tester połysku 45 stopni Cienkowarstwowy miernik połysku Szybki pomiar
Kolorymetr Miernik połysku WG45 Pojedynczy kąt 45 stopni Miernik połysku Specular Tester połysku 45 stopni Cienkowarstwowy miernik połysku Szybki pomiar
Kolorymetr Miernik połysku WG45 Pojedynczy kąt 45 stopni Miernik połysku Specular Tester połysku 45 stopni Cienkowarstwowy miernik połysku Szybki pomiar
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

Kolorymetr Miernik połysku WG45 Pojedynczy kąt 45 stopni Miernik połysku Specular Tester połysku 45 stopni Cienkowarstwowy miernik połysku Szybki pomiar

zł700.00 zł3,497.67
Zwrot bez ryzyka w 30 dni i gwarancja zwrotu pieniędzy
Dodano do koszyka.

Specyfikacja produktu

- Pomiar automatyczny, tryb statystyczny (pokazuje średnią, maks., min.), określanie tolerancji, ręczne wprowadzanie danych dotyczących połysku próbek standardowych;
- Humanizowany , dobry interfejs komunikacyjny człowiek-maszyna;
- Pojedynczy kąt może przechowywać 10000 rekordów testowych, struktura przechowywania to: 100 prototypów, każdy prototyp ze 100 danymi testowymi;
- Funkcja automatycznego wyłączania, funkcje ostrzegania o niskim poborze mocy, funkcje podpowiedzi dotyczące pełnego przechowywania danych;
- Obsługa oprogramowania komputerowego, może nerować raporty w wielu formatach, transmisję danych .

Używamy plików cookie, aby ulepszyć Twoje doświadczenia. Klikając „Akceptuję”, wyrażasz zgodę na naszą Polityka prywatności.