✦ 30 dni na zwrot · Zwrot na nasz koszt · Bezpieczna płatność ✦
Regulowany aplikator powłoki magnetycznej z mikrometrem – precyzyjna kontrola grubości do użytku laboratoryjnego(Aluminium alloy 300mm)
Regulowany aplikator powłoki magnetycznej z mikrometrem – precyzyjna kontrola grubości do użytku laboratoryjnego(Aluminium alloy 300mm)
Regulowany aplikator powłoki magnetycznej z mikrometrem – precyzyjna kontrola grubości do użytku laboratoryjnego(Aluminium alloy 300mm)
Regulowany aplikator powłoki magnetycznej z mikrometrem – precyzyjna kontrola grubości do użytku laboratoryjnego(Aluminium alloy 300mm)
Regulowany aplikator powłoki magnetycznej z mikrometrem – precyzyjna kontrola grubości do użytku laboratoryjnego(Aluminium alloy 300mm)
Regulowany aplikator powłoki magnetycznej z mikrometrem – precyzyjna kontrola grubości do użytku laboratoryjnego(Aluminium alloy 300mm)
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

Regulowany aplikator powłoki magnetycznej z mikrometrem – precyzyjna kontrola grubości do użytku laboratoryjnego(Aluminium alloy 300mm)

zł700.00 zł3,290.67
Zwrot bez ryzyka w 30 dni i gwarancja zwrotu pieniędzy
Rozmiar
Dodano do koszyka.

Specyfikacja produktu

- Osiągnij precyzyjną kontrolę grubości folii od 0 do 3500 mikronów dzięki regulowanym środowiskom mikrometrów zapewniającym dokładne pomiary.
- Wykonane ze stali nierdzewnej, zapewniającej trwałość i precyzyjnie szlifowaną krawędź dla płynnej aplikacji na różnych podłożach.
- Wszechstronne urządzenie pozwala na uzyskanie wielu szerokości folii w zakresie od 5 do 30 cm, odpowiednich do różnych zastosowań w badaniach i przemyśle.
- Idealny do procesów powlekania w druku, klejach, elektrodach i odlewaniu taśm ceramicznych, zwiększając wydajność w badaniach materiałowych.
- Łatwa obsługa: wystarczy wyregulować szczelinę zgarniacza, wlać próbkę i poruszać się ze stałą prędkością, aby uzyskać jednolite rezultaty powlekania.

Używamy plików cookie, aby ulepszyć Twoje doświadczenia. Klikając „Akceptuję”, wyrażasz zgodę na naszą Polityka prywatności.